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中圖三維光學(xué)表面輪廓儀品牌采用白光軸向色差原理，利用白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)制成的SuperViewW1是一種用于對樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維檢測的精密儀器，它的特點(diǎn)是可以達(dá)到納米級的檢測精度。測量范圍從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌，可以快速獲取數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測，主要用于成品質(zhì)量的管理，確保良品合格率。

SuperViewW1光學(xué)形貌測量儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。

SuperView W1光學(xué)輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

SuperView W3光學(xué)3D輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。